近日，由我院与赛默飞世尔科技（中国）有限公司联合主办的“第八届辉光放电质谱技术交流暨培训会”成功举办。来自高纯材料生产企业、检验检测机构和科研院所近50位技术代表参加。我院副总经理张剑峰出席，院材质中心薛民杰、郝萍、科信处陈超婵、质管处杨瑾作技术报告。

张剑峰在致辞中介绍我院在集成电路材料检测领域技术布局与能力建设。他表示，我院经过深化改革，现已发展成为以计量为基础、检测为特色的专业化技术服务机构，在硅片晶圆、溅射靶材、超纯水等核心材料检测方面建立完整技术体系。近年来，我院持续深化产学研合作，积极对接产业需求，通过举办技术交流活动、开放实验室资源等方式，为集成电路产业提供全方位技术支撑和服务。

会上，薛民杰作题为《集成电路材料多维度检测技术平台构建与产业化应用》的报告，系统介绍我院在集成电路材料检测领域综合技术能力。陈超婵分享了《方法类国家标准起草要点》，为产业界标准化工作提供指导。杨瑾作《以CMA和CNAS构建实验室的质量与信誉基石》为题的报告，阐述实验室质量管理体系建设重要性。郝萍介绍了《XPS技术在半导体行业的应用》，展现了多元化检测技术在产业中的价值。

会议结束后，我院为参会人员无偿提供为期2天的免费GDMS仪器操作培训，理论结合实践，充分体现我院计量技术机构公益性属性，同时，助力产业界技术人员深入掌握先进检测技术，提升实际应用能力。

本次培训会，不仅展现我院在集成电路材料检测领域技术实力、服务能力，也进一步加强院与产业界沟通交流。未来，我院将继续秉持开放共享理念，在技术攻关、标准制定、质量体系建设、人才培养等方面发力，为我国集成电路产业高质量发展提供更加坚实的技术支撑。